ZEISS 簡(jiǎn)單三維檢測(cè)，由此開始
探索全新便攜式掃描解決方案
ZEISS T-SCAN hawk結(jié)合GOM Inspect
Suite軟件套裝組合可協(xié)助您完成從掃描高質(zhì)量三維數(shù)據(jù)到獲得高質(zhì)量結(jié)果的全過程，它專為簡(jiǎn)化流程設(shè)計(jì)。
簡(jiǎn)單檢測(cè)
由此開始
通過使用由光學(xué)掃描技術(shù)和 GOM Inspect Suite 軟件組成的解決方案，您可以：
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實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單高效的表面檢測(cè)
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創(chuàng)建任意表面的三維可視化數(shù)據(jù)，同步獲取標(biāo)稱實(shí)際數(shù)據(jù)和兩者偏差
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完成表面缺陷檢測(cè)及諸多其它檢測(cè)訴求
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應(yīng)用范圍
逆向工程
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根據(jù)實(shí)際形狀還原CAD
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模具及歷史文物存檔
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從細(xì)節(jié)到大型零件掃描
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產(chǎn)品維護(hù)
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零件磨損及損壞三維檢測(cè)
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室內(nèi)外便攜操作
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趨勢(shì)分析
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質(zhì)量控制
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實(shí)際數(shù)據(jù)與CAD對(duì)比
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功能性尺寸檢測(cè)
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車間現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
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